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研發實驗室

推力計,用于芯片推力測試的力學測量儀器。檢驗芯片與不同材料的焊接效果,實現對芯片結合力等測試功能的檢測。


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老化臺,用于測試點亮LED光源產品在常溫,高溫、低溫、恒溫恒濕等溫度環境變化的性能;以及對LED光源進行脈沖壽命試驗,檢驗LED光源的開關性能驗證。


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積分球,用于LED產品綜合性的電、光分析功能,可測量紫外LED光源的光譜功率分布,峰值波長、半寬度、ABC各波段的光譜輻通量、和特定波段內總輻射通量、電壓和電流等相關參數。


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光學膜厚測試儀

膜厚測量儀是一種測量樣品的厚度、折射率(n, k)和表面粗糙度等信息的光學儀器,可支持不同光譜范圍,光譜范圍可達200-1700nm,主要測量SiO2膜厚、折射率、ITO膜厚、PR膜厚等。


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探針式輪廓儀

探針式輪廓儀支持量測臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量,大垂直范圍和低觸力測量功能,主要測量PR厚度、MESA厚度、METAL厚度等。


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自動倒裝UV測試機

自動倒裝UV測試機,適用于2~6寸LED晶圓的全自動測試,采用cassette自動上下片系統和八針測試,快捷方便產能高,可測量產品的工作電壓、開啟電壓、光功率、波長、漏電等光電性能參數。


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